TN5026 相位噪声和稳定度测试仪

相位噪声和稳定度测试仪

TN5026 信号分析仪是评估原子钟及高性能晶体振荡器指标的利器，可测量频率稳定度、相位噪声、频率等信号源核心技术指标，数据便于观察、分析和保存。
适应领域：计量部门、晶体生产厂、科研院所、时频企业、高校等

TN5026 相位噪声和稳定度测试仪

主要特性

可分析信号源几乎所有频率特性和噪声特性
输入频率 0.5-30MHz
配合上位机软件快速一件测量
兼容3120A所有性能

主要特性

性能指标
输入频率	DUT&REF	0.5~30MHz
输入功率范围	DUT&REF	-5dBm~+18dBm
输入电平要求	DUT&REF	隔直流，仅限交流信号
输入阻抗及驻波要求	DUT&REF	50Ω，VSWR ≤ 1.5:1
ALLAN 方差本底	DUTvsREF	≤ 1×10⁻¹³ @1s
		≤ 5×10⁻¹⁵ @1000s
Phase Noise 本底	DUTvsREF	≤ -140dBc/Hz@1Hz at 5MHz
		≤ -170dBc/Hz@10kHz at 5MHz
		≤ -130dBc/Hz@1Hz at 25MHz
		≤ -165dBc/Hz@10kHz at 25MHz
电源		标配 100-240VAC, 30W 电源
外形尺寸		210mm×140mm×30mm

典型曲线